高加速壽命試驗箱(Highly Accelerated Life Testing,簡稱HALT試驗)是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機械裝配件設計缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限,從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。
HALT試驗的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限,從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。其優(yōu)點如下:
a.消除設計缺陷,提高設計可靠性,確保能獲得早期高可靠性,使設備具有高的外場可靠性;
b.減少鑒定試驗時的故障,經(jīng)過HALT的產(chǎn)品,鑒定試驗已不重要,僅是一種形式而已;
c.降低壽命周期費用;
d.能確切了解工作極限和損壞極限,為制定HASS方案,確定應力量級提供依據(jù)。