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半導體器件的高溫試驗怎么做？
發(fā)表時間：2022-11-25 網(wǎng)址：http://m.crazy-toys.com/ 編輯：admin
半導體器件行業(yè)也是星拓環(huán)境近幾年頻繁合作的行業(yè)，半導體器件是導電性介于良導電體與絕緣體之間，利用半導體材料特殊電特性來完成特定功能的電子器件，可用來產(chǎn)生、控制、接收、變換、放大信號和進行能量轉(zhuǎn)換。今天就來看一下，星拓環(huán)境試驗設(shè)備在半導體器件行業(yè)的應(yīng)用。
1、根據(jù)標準器件安裝相關(guān)要求，為了實現(xiàn)器件的高溫工作壽命，這里選擇管座對器件進行安裝。管座通過壓接方式將器件的管腳對應(yīng)轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的管座引腳，實現(xiàn)器件與PCB電路板的免焊接方式相連。器件使用了管座類似該器件進行了再封裝，因此制作的直流老煉電路應(yīng)以機械結(jié)構(gòu)和轉(zhuǎn)換后具有不同管腳功能的管腳為準。
2、此外為了提高高溫工作壽命的效率，采用并聯(lián)方式將多只器件同時行高溫工作壽命，板材選用FR-4板材，板厚1.6mm，銅厚loz。其中2測試通孔方便使用熱電偶測試產(chǎn)品的殼溫Tc。
3、在高溫工作試驗結(jié)束后進行產(chǎn)品測試，選取試驗結(jié)果中0utput Pover參數(shù)、Reverse Leakage參數(shù)、SSB Phase Noise ( 100KHzoffset)參數(shù)和Supply Current ( Icc)參數(shù)進行測試，測試條件為Vcc=5V。
高低溫試驗箱在試驗過程中發(fā)現(xiàn)本標準內(nèi)容合理，可操作性強，不會對產(chǎn)品意外引入損傷，可作為半導體器件的檢驗方法。通過以上試驗驗證，具有可操作性。
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