環(huán)境可靠性試驗(yàn)所涉足的行業(yè)越來(lái)越多，除了車(chē)企、航空航天、各類(lèi)材料等行業(yè)，今天要說(shuō)的路由器行業(yè)所用到的環(huán)境可靠性試驗(yàn)也非常廣泛。要在惡我的工作環(huán)境中，長(zhǎng)時(shí)間不間漸的工作，這對(duì)于無(wú)線路中器來(lái)說(shuō)無(wú)疑是一個(gè)考驗(yàn)。尤其是在高溫環(huán)境下，無(wú)線路由器內(nèi)部的電子元器件長(zhǎng)時(shí)間工作比較容易出現(xiàn)問(wèn)題。這樣一來(lái)，無(wú)線路由器就很容易出現(xiàn)掉線、斷網(wǎng)、卡頓等問(wèn)題，嚴(yán)重影響用戶(hù)在使用無(wú)線網(wǎng)絡(luò)時(shí)的使用體驗(yàn)。如果這種情況時(shí)常出現(xiàn)在功能豐富的智能路由器身上，那么多強(qiáng)的功能都沒(méi)有用武之地，畢竟無(wú)線路由器穩(wěn)定才是最重要的功能。

路由器環(huán)境測(cè)試包括: 低溫、高溫高濕、低溫存儲(chǔ)、高溫存儲(chǔ)測(cè)試。

路由器環(huán)境可靠性試驗(yàn)要求:

1.對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱的要求參見(jiàn)GB/T2423.3 - 93第三章。

2.對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱內(nèi)檢定用主要儀器及要求參見(jiàn)GB/T5170.2-96 第四章

3.受檢設(shè)備的外觀和安全要求參見(jiàn)GB/T5170.1-95 第八章。

4.在升降溫度過(guò)程中，環(huán)境試驗(yàn)箱內(nèi)溫度變化速率不大于1℃/分鐘 (不超過(guò)5分鐘時(shí)間的平均值)

低溫測(cè)試要求溫度:0℃；

高溫測(cè)試要求溫度:40℃、濕度85%-90%;

被測(cè)設(shè)備加電2小時(shí)，被測(cè)設(shè)備恢復(fù)后工作正常.

高、低溫存儲(chǔ)測(cè)試要求:

在低溫-40°C、高溫55°C，存儲(chǔ)時(shí)間48小時(shí)后，恢復(fù)后設(shè)備工作正常。

如果需要，可通過(guò)試驗(yàn)確定環(huán)境過(guò)驗(yàn)箱能否滿(mǎn)足低氣流速度的要求。將過(guò)驗(yàn)樣品放入溫度為試驗(yàn)室溫度的環(huán)境試驗(yàn)箱中，然后給試驗(yàn)樣品通電或加電負(fù)載，檢查試驗(yàn)樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規(guī)范的要求。試驗(yàn)樣品應(yīng)按照相關(guān)規(guī)范規(guī)定的工作循環(huán)和負(fù)載條件(如可行時(shí))處于運(yùn)行狀態(tài)。

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